Ayrton-Perry 绕制

由物理学家 William Ayrton 与 John Perry 于 1888 年为精密仪器开发并命名。Ayrton-Perry 工艺在同一陶瓷骨架上设置两层细电阻丝，第二层与第一层螺旋方向相反；两层端到端并联。电流在两层间均分，由于两个螺旋互为镜像，电流两半部分产生的磁场沿全长抵消（不仅是匝间抵消，如双线绕那样）。

残余电感典型比同等双线绕低 5 ~ 10 倍 —— 100 Ω 元件可低于 50 nH，10 Ω 电流采样可低于 20 nH。由于两根导线在表面交替位置而非以恒定电位并列，电容也得到更好控制。综合效果是所有绕线结构中阻抗 - 频率曲线最平坦。

Ayrton-Perry 在高频下需要绕线稳定性的场合不可或缺：开关稳压器精密电流采样、高压测量分压器、脉冲功率阻尼电阻等。两层结构使每欧姆所需线长约翻倍，成本增加；需要长期合格供应商资质与严格装配过程控制以保持层间对位。